Multilayer coatings for x-ray mirrors: extraction of stack parameters from x-ray reflectivity scans and comparison with transmission electron microscopy results

Spiga, D. , Pareschi, G. , Cotroneo, V. , Canestrari, R., Mirone, A., Ferrero, C., Ferrari, C., Lazzarini, L., Vernani, D.

2007, Optical Engineering, vol. 46, issue 8, p. 086501

Citations: 2     I.F.: 0.67        Citations/Authors: 0.22

EDGE: explorer of diffuse emission and gamma-ray burst explosions

den Herder, J. W., Piro, L., Ohashi, T., Amati, L., Atteia, J., Barthelmy, S., Barbera, M., Barret, D., Basso, S. , Boer, M., Borgani, S., et al.

den Herder, J. W., Piro, L., Ohashi, T., Amati, L., Atteia, J., Barthelmy, S., Barbera, M., Barret, D., Basso, S. , Boer, M., Borgani, S., Boyarskiy, O., Branchini, E., Branduardi-Raymont, G., Briggs, M., Brunetti, G., Budtz-Jorgensenf, C., Burrows, D., Campana, S. , Caroli, E., Chincarini, G., Christensen, F., Cocchi, M., Comastri, A., Corsi, A., Cotroneo, V. , Conconi, P., Colasanti, L., Cusamano, G., de Rosa, A., Del Santo, M., Ettori, S., Ezoe, Y., Ferrari, L., Feroci, M., Finger, M., Fishman, G., Fujimoto, R., Galeazzi, M., Galli, A., Gatti, F., Gehrels, N., Gendre, B., Ghirlanda, G. , Ghisellini, G. , Giommi, P., Girardi, M., Guzzo, L. , Haardt, F., Hepburn, I., Hermsen, W., Hoevers, H., Holland, A., In't Zand, J., Ishisaki, Y., Kawahara, H., Kawai, N., Kaastra, J., Kippen, M., de Korte, P. A. J., Kouveliotou, C., Kusenko, A., Labanti, C., Lieu, R., Macculi, C., Makishima, K., Matt, G., Mazotta, P., McCammon, D., Méndez, M., Mineo, T., Mitchell, S., Mitsuda, K., Molendi, S., Moscardini, L., Mushotzky, R., Natalucci, L., Nicastro, F., O'Brien, P., Osborne, J., Paerels, F., Page, M., Paltani, S., Pareschi, G. , Perinati, E., Perola, C., Ponman, T., Rasmussen, A., Roncarelli, M., Rosati, P., Ruchayskiy, O., Quadrini, E., Sakurai, I., Salvaterra, R., Sasaki, S., Sato, G., Schaye, J., Schmidtt, J., Scioritino, S., Shaposhnikov, M., Shinozaki, K., Spiga, D. , Suto, Y., Tagliaferri, G. , Takahashi, T., Takei, Y., Tawara, Y., Tozzi, P., Tsunemi, H., Tsuru, T., Ubertini, P., Ursino, E., Viel, M., Vink, J., White, N., Willingale, R., Wijers, R., Yoshikawa, K., Yamasaki, N.

2007, Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy III. Edited by O'Dell, Stephen L.; Pareschi, Giovanni. Proceedings of the SPIE, Volume 6688, article id. 668805 (2007).

Citations: 23     I.F.: 1.74        Citations/Authors: 0.19

An x-ray polarimeter for HXMT mission

Costa, E., Bellazzini, R., Tagliaferri, G. , Baldini, L., Basso, S. , Bregeon, J., Brez, A., Citterio, O. , Cotroneo, V. , Frontera, F., Frutti, M., et al.

Costa, E., Bellazzini, R., Tagliaferri, G. , Baldini, L., Basso, S. , Bregeon, J., Brez, A., Citterio, O. , Cotroneo, V. , Frontera, F., Frutti, M., Matt, G., Minuti, M., Muleri, F., Pareschi, G. , Perola, G. C., Rubini, A., Sgro, C., Soffitta, P., Spandre, G.

2007, UV, X-Ray, and Gamma-Ray Space Instrumentation for Astronomy XV. Edited by Siegmund, Oswald H. Proceedings of the SPIE, Volume 6686, article id. 66860Z, 10 pp. (2007).

Citations: 4     I.F.: 1        Citations/Authors: 0.2

Carbon overcoatings for soft X-ray reflectivity enhancement

Cotroneo, V. , Spiga, D. , Barbera, M., Bruni, R., Chen, K., Marcelli, A., Pareschi, G. , Romaine, S., Zhao, Y.D., Zheng, L., Wu, Z.Y., et al.

2007, Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy III. Edited by O'Dell, Stephen L.; Pareschi, Giovanni. Proceedings of the SPIE, Volume 6688, article id. 66880U (2007).

Citations: 1     I.F.: 0.27        Citations/Authors: 0.09