Immagine rappresentativa attivita` Foto di Bianca Salmaso Foto di Mauro Ghigo Foto di Giorgia Sironi   Metrologia per ottiche a raggi X - Bianca Salmaso, Mauro Ghigo e Giorgia Sironi
L’ottica a raggi X è un campo in pieno sviluppo non solo in ambito astronomico, ma scientifico in generale, con notevoli applicazioni mediche, biologiche, e nella scienza dei materiali, con ovvie ricadute nelle industrie ad alta tecnologia. Si tratta di un campo in cui l’Italia, e l’Osservatorio Astronomico di Brera in particolare, ha assunto una leadership mondiale a partire dagli anni  90 in collaborazione con istituti internazionali. Un aspetto fondamentale nello sviluppo di specchi per raggi X è la verifica della prestazioni usando strumentazione di metrologia che determini lo stato della superficie e del profilo (profilometro ottico, microscopia a forza atomica, interferometria a spostamento di fase) o misure di riflettometria a raggi X. Gli stagisti, dopo alcune lezioni introduttive, verranno coinvolti nelle misure suddette su segmenti di specchi, affiancati da un ricercatore, e nella successiva analisi dei dati.
Per chi: 3 studenti - classe: terza/quarta
Quando: febbraio o giugno
Durata: 40 ore (1 settimana)
Modalità di partecipazione: lo stage è gratuito; spese a carico dei partecipanti.
Referente: Bianca Salmaso (e-mail e telefono).


Per iscriversi: Scarica il fac-simile di domanda da inviare - insieme alla lettera di referenza - alla dott.ssa Monica Sperandio (e-mail) entro il 10 novembre 2017 per il periodo gennaio/febbraio ed entro il 14 aprile 2018 per il periodo giugno/luglio
 
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