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PRISMA
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Tecnologie avanzate per telescopi spaziali e da terra

La storia
Il gruppo "Tecnologie avanzate per telescopi spaziali e da terra" inizia la sua attività all’inizio degli anni ’90 sotto la guida di Oberto Citterio.
Tra le attività più rilevanti, è stata consolidata e applicata la tecnologia di elettroformatura del Nickel per la realizzazione di specchi monolitici radenti per astronomia in raggi X, proseguendo le attività precedentemente iniziate presso l’Istituto IFCTR /CNR di Milano (poi confluito nell’INAF come IASF-Milano) e con cui erano stati prodotti gli specchi X del modulo ottico a bordo del satellite Beppo-SAX.
Questa tecnologia, grazie alle attività svolte presso l’Osservatorio di Brera e alla collaborazione con l’industria Media Lario, è stata in seguito applicata con grande successo per i moduli ottici per raggi X dei telescopi XMM (ESA) e SWIFT (NASAASI-PPARC).

Oggi
L’attività di ricerca del gruppo è suddivisa nei seguenti rami:

  • Tecnologia Replica tramite Elettroformatura del Nickel e peso ottimizzate per la nuova generazione di telescopi con copertura riflettente multilayer per la focalizzazione nella banda Hard X-ray (10-100 keV), come ad esempio il satellite eXTP (CAS);
  • Tecnologia "Glass Shaping", per "Slumping a caldo" (per specchi secondari adattivi) e "Slumping a freddo" (per specchi in raggi X con alta area efficace);
  • Tecnologia "Ion Beam Figuring" per specchi ottici ad alta precisione e finestre per la correzione del fronte d’onda.
  • Facility di calibrazione per raggi X in vista della missione ATHENA (BEaTriX, VERTEX)
  • Sviluppo di shell sottili in vetro con polishing diretto e altri materiali per future missioni spaziali (ad esempio Lynx)
  • Telescopi per raggi gamma da terra con tecnica Cherenkov, con particolare riferimento ai progetti ASTRI e CTA

L’attività di ricerca consiste nello sviluppo di tecnologie di base, che parte dallo studio dei materiali fino al processo di manifattura, la metrologia degli specchi e le simulazioni del disegno ottico.
Nei nostri laboratori abbiamo un ampio set di strumenti per la caratterizzazione degli specchi, dalla loro forma (interferometro laser e profilometro per scansioni fino ad un metro), alla loro microrugosità superficiale (profilometro ottico e microscopi atomici).
Inoltre, per quanto riguarda gli specchi per l’astronomia X, possiamo testare la riflettività e lo scattering di specchi fino a 50 KeV.
Per l’interpretazione dei risultati metrologici ci avvaliamo di software specifici, la maggior parte dei quali è stata sviluppata dal nostro personale ed è in continuo aggiornamento.

Per gli studenti
Il nostro gruppo segue studenti di laurea (triennale e/o specialistica) di dottorato e borsisti con lavori all’avanguardia.
Se volete saperne di più contattateci.



Il Responsabile del gruppo
Dr. Giovanni Pareschi (PI Gruppo Ottiche X per Raggi Gamma) in collaborazione con Dr. Mauro Ghigo (PI per le tecnologie di "Glass Shaping" e "Ion Beam Figuring").

Personale coinvolto
Personale di ricerca: Dr. Daniele Spiga, Ing. Stefano Basso, Dr.ssa Marta Civitani, Dr.ssa Giorgia Sironi, Dr.ssa Bianca Salmaso, Dr. Giovanni Pareschi, Dr. Mauro Ghigo;
Post-doc: Dr. Vincenzo Cotroneo, Dr. Gabriele Vecchi;
Executive scientific secretary: Dr.ssa Rachele Millul;
Collaboratori esterni: Prof. Oberto Citterio e Dr. Paolo Conconi.