Per gli studenti e ospitiMetodo per la misura dello spessore di film semitrasparenti con spessore nanometrico
Tutor: Vincenzo CotroneoTesi magistrale OAB è un’istituzione leader nella R&D per ottiche astronomiche, specialmente nei raggi X, e partecipa allo sviluppo di future ambiziose missioni spaziali come ATHENA (ESA) e eXTP (CAS). Circa vent’anni fa, OAB ha proposto l’utilizzo di rivestimenti a base di carbonio per migliorare la riflettività ai raggi X di bassa energia e sta attualmente sviluppando, in collaborazione con il Politecnico di Milano e le industrie locali, un tipo innovativo di rivestimento polimerico che semplifica notevolmente l’applicazione di questo tipo di film sottili. Lo sviluppo presenta diverse sfide, una delle quali è la misura dello spessore dei film, che, avendo uno spessore dell’ordine di pochi nanometri, ed essendo semitrasparenti, non sono facilmente caratterizzabili con tecniche convenzionali. Lo studente svilupperà e calibrerà un nuovo metodo di misura utilizzando gli strumenti avanzati disponibili presso il laboratorio di OAB. Questo lavoro offrirà l’opportunità di collaborare con partner internazionali e industria, entrare in contatto con diversi progetti e tecnologie all’avanguardia ed esporre lo studente a un ambiente di lavoro dinamico e variegato. Il metodo sviluppato potrebbe avere potenziali applicazioni anche al di fuori del campo dell’ottica astronomica, mentre le tecniche e gli strumenti utilizzati sono di comune utilizzo per diversi settori di ricerca e applicazioni aziendali. |
